高低溫試驗箱用于電子元器件、自動(dòng)化技術(shù)元器件、汽車(chē)零部件、金屬材料、塑料等行業(yè)的物理轉化，如航空航天、BGA、PCB基板、電子芯片ic、半導體材料、纖維材料等。它測試的是材料對高低溫的持續耐受能力和產(chǎn)品熱脹冷縮的化學(xué)變化，可以保證產(chǎn)品的質(zhì)量。它可以用于從jingmi集成電路到重型機械部件。是各領(lǐng)域產(chǎn)品不可或缺的檢測箱。下面說(shuō)明一下高低溫試驗箱可以用在哪些可靠性測試中。

　　1.高低溫試驗箱高溫儲存

　　高溫篩選在半導體器件中應用廣泛，一般在高溫下存放24~168小時(shí)。電子元器件的失效大多是由于表面層臟、粘接不好、氧化層有缺陷引起的，這些都與溫度密切相關(guān)。

　　應適當選擇各種部件的熱應力和篩選時(shí)間，以避免新的失效機制。高溫篩選既簡(jiǎn)單又便宜，并且可以在許多部件上實(shí)施。本發(fā)明能夠穩定器件的參數性能，減少使用中的參數漂移。

　　2.高低溫試驗箱溫度循環(huán)系統

　　電子設備在熱脹冷縮的應力作用下，使用過(guò)程中會(huì )遇到不同的環(huán)境溫度條件，熱匹配性能差的元器件容易失效。溫度循環(huán)篩選是利用ji端高溫和ji端低溫之間的熱脹冷縮的應力，可以有效地淘汰存在熱性能缺陷的產(chǎn)品。常用的組分篩選條件為-55~+125℃，循環(huán)5~10次。

　　3.電子元件篩選的必要性

　　電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品可靠性的設計方案。在產(chǎn)品的制造過(guò)程中，由于人為因素或原材料、工藝參數、設備條件的波動(dòng)，zui終成品不可能全部達到預期的固有可靠性。

　　在每一批成品中，總有一些產(chǎn)品隱藏著(zhù)一些缺陷和弱點(diǎn)。這些隱藏的缺陷和弱點(diǎn)在某些壓力條件下會(huì )顯示出早期的失敗。早期失效的元件平均壽命比正常產(chǎn)品短得多。

　　因此，在電子元器件安裝到整機和設備中之前，需要盡可能地排除有初始故障的元器件，因此需要對元器件進(jìn)行篩選。根據國內外篩選的經(jīng)驗，通過(guò)有效的篩選可以使元器件的總失效率降低1-2個(gè)數量級，篩選是保證可靠性的重要手段。